产品分类
 X螢光光譜儀 XRF
 
其他
 



















EDX600

 

X螢光光譜儀600
型號: EDX600
諮詢留言: 點擊這裡進一步諮詢該產品
購買聯繫: 03-5838352

 

               

儀器介紹

EDX600是集天瑞儀器多年貴金屬檢測技術和經驗,以獨特的產品配置、功能齊全的測試軟體、友好的操作介面來能滿足貴金屬成分檢測的需要 ,人性化的設計,使測試工作更加輕鬆完成。

EDX600貴金屬檢測儀使用高效而實用的正比計數盒探測器,以實在的價格定位,滿足貴金屬的成分檢測和鍍層厚度測量的要求,且全新的更 具有現代感的外形、結構及色彩設計,使儀器操作更人性化、更方便。

性能特點

專業貴金屬檢測、鍍層厚度檢測。
智慧貴金屬檢測軟體,與儀器硬體相得益彰。
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變數非線性回收程式。

技術指標

元素分析範圍:從鉀(K)到鈾(U)。
測量物件:固體、液體、粉末
分析檢出限可達:1ppm
分析含量一般為:1ppm99.9%。
多次測量重複性可達:0.1%。
長期工作穩定性為:0.1%。



標準配置

單樣品腔。

正比計數盒探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X
光管。

應用領域

黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。
金屬鍍層的厚度測量和電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用於貴金屬加工和首飾加工行業;銀行,首飾銷售和檢測機構;電鍍行業。