儀器介紹

       氫化物—原子螢光光譜法（HG—AFS）是將氫化物發生技術與無色散原子螢光檢測系統完美的結合，從而發展起來的一種新的聯用分析技術，專門用於測試可形成氣態氫化物的As、Sb、Bi、Se、Te、Pb、Sn、Ge，以及可形成揮發性氣態組分的Hg、Cd、Zn等元素。氫化物發生原子螢光光譜儀具有儀器結構簡單、分析靈敏度高、氣相干擾少、線性範圍寬、分析速度快等優點，受到國內外分析工作者的高度重視。
AFS200T雙道原子螢光光譜儀是天瑞儀器公司精心打造，使用多項國家專利技術，具備完全自主知識產權的精密分析儀器。它性能優良、功能齊全，可以滿足用戶的全方位樣品分析測試需求。

性能特點

檢測元素範圍：As, Sb, Bi, Hg, Se, Te, Pb, Sn, Ge, Zn, Cd等11種元素。
檢測限（D.L）:As, Sb, Bi≤0.01ng/ml Hg≤0.001ng/ml
精密度（RSD）: ≤1%；線性範圍：大於三個數量級
採用非色散光學系統，結構簡單，可進行最多兩道元素同時測量。
燈電流、負高壓、蠕動泵轉速等自動控制；USB2.0通訊介面。
Ar氣流量自動控制，儀器不工作時自動切斷Ar氣，方便用戶操作，節省氣源用量。
儀器內部配備火焰即時觀察裝置，方便用戶檢測儀器運行狀態。

技術指標

1，檢測元素範圍
As、Sb、Bi、Hg、Se、Te、Pb、Sn、Ge、Zn、Cd等11種元素。
2，典型元素檢出限（D.L）
As，Sb ≤ 0.01ng/ml Hg ≤ 0.001ng/ml
3，精密度（RSD）
典型元素精密度 ≤ 1%
4，線性範圍
大於三個數量級

標準配置

低溫原子化器
2部蠕動泵
電路控制系統
光電倍增管
高清晰攝像頭
2部品質流量控制器
原子化器高度微調裝置
光學系統

應用範圍

地質、環境、冶金、食品、生物、醫藥、農業植物樣品、輕工、化妝品等