EDX3600L

 

X螢光光譜儀3600L
型號: EDX3600L
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儀器介紹

       EDX3600L型的儀器,利用中國歷史博物館和上海矽酸鹽研究所兩大古陶瓷研究檢測的權威部門提供的標準陶瓷片樣品為儀器標定基準標樣,一次性同時分析古陶瓷標本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化學成份含量,再對照中國古陶瓷資料庫便可以達到斷代斷源的功效。同時,為了更好的利用X螢光分析儀器的無損測量特性,我公司特意根據行業需要製作超大型抽真空樣品腔,以滿足不同大小、器形的陶瓷樣品的檢測。

EDX3600L型儀器在測試陶瓷的同時亦可以測試青銅器(Cu、Sn、Pb、Zn等)、貴金屬(Au、Pt、Ag、Pb、Cu、Ni、Ru、Rh、Fe等)等的化學成份和金屬鍍層厚度,做到一機多用,是古文物檢測必備的科學檢測儀器。中國歷史博物館、中國收藏家協會等古文物收藏部門都是其用戶 。       

技術指標

測量元素範圍:從鈉(Na)至鈾(U)
元素含量分析範圍:1ppm—99.99%
分析精度:0.05%
同時分析元素:幾十種元素同時分析
測量鍍層:鍍層厚度測量最薄至0.01微米
測量物件狀態:粉末、固體、液體
測量時間:60s—200s
管壓:5KV—50KV
管流:50uA—1000uA
輸入電壓:AC 110V/220V
消耗功率:200W
環境溫度: 15-26℃
相對濕度: ≤70%
超大抽真空樣品腔:600*600*1000mm3
重 量 : 280KG。


標準配置

電製冷UHRD探測器
內置信噪比增強器可有效提高儀器信號處理能力25倍
可自動切換型准直器和濾光片
光路增強系統
內置高清晰攝像頭
加強的金屬元素感度分析器
智慧全元素分析軟體,與儀器硬體相得益彰,且操作簡單
面光源
放大電路
高低壓電源
X光管
多變數非線性回歸程式
相互獨立的基體效應校正模型
三重安全保護模式。

應用領域

古陶瓷
古青銅器
古首飾
鍍層測厚。