EDX860D

 

X螢光光譜儀EDX860D
型號: EDX860D
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儀器介紹

       本儀器專門針對貴金屬測試,可測試環形樣品內壁及普通平面測試,具有以下特點:體積小巧,外型莊重大方,手動升降平臺滿足不同大小樣品的測試,樣品固定方便快捷,可方便更換准直器,准直器直徑為1.5mm,可測試較小區域,下照式,大視窗正比計數盒保證計數率滿足分析需要,寬闊樣品腔可滿足較大樣品的測試,攝像頭鐳射精確定位實現視覺化定位,良好的射線遮罩確保操作人員 。

性能特點

1. 大功率光管
2. 超大窗口面積正比計數盒
3. 外型小巧,莊重大方
4. 寬闊樣品腔,方便操作及測試較大樣品
5. 手動升降平臺確保測試不同大小環狀樣品
6. 小准直器,利於測試樣品小區域
7. 攝像頭與鐳射定位,可視地準確定位到被測點,測試時鐳射點自動關閉,利於拍攝清晰照片
8. 良好的射線遮罩確保操作人員的安全

技術指標

分析含量一般為1ppm到99.9%
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互獨立的基體效應校正模型
多變數非線性回歸程式
多次測量重複性可達0.1%
長期工作穩定性為0.1%
樣品觀察:CCD攝像頭
電源:交流220V±5V
測量時間:60-200S
管壓:5-50KV
管流:50-1000μA
溫度適應範圍:15℃-30℃。


標準配置

正比計數盒
50W X光管
高壓電源 50kV@1mA
攝像頭鐳射定位裝置
高靈敏度信號檢測電子電路
手動升降平臺
樣品夾
橡皮泥
准直器直徑為1.5 mm。

應用領域

首飾加工廠
金銀珠寶首飾店
貴金屬冶煉廠
品質檢驗部門
分析測試中心
典當行